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X荧光测厚仪

简要描述:X-Strata920表面镀层测厚仪是一款简洁、坚固和可靠的质量控制XRF台式荧光系统,用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析

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  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2022-06-06
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详细资料

X-Strata920表面镀层测厚仪

是一款简洁、坚固和可靠的质量控制XRF台式荧光系统,用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析。

功能特性:

  • 成本低、快速、非破坏的EDXRF分析
  • 可完成至多4层镀层(另加底材)和25个元素的镀层厚度测试,自动修正X射线重叠谱线
  • 的多元素辨识,广泛覆盖元素表上从钛(原子序数22号)到铀(92号)各元素
  • 测厚行业35年知识和经验的积淀

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