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TS/TS-X/TS-XL/TS-X MOVE轮廓粗糙度仪

简要描述:TS:带Z轴上轮廓扫描轮廓测量系统花岗石底座带T型槽和电动Y/R升降工作台恒定动态速度控制,无论倾角大小,都保持测量点距一致

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  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2024-02-26
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详细资料

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TS:带Z轴上轮廓扫描轮廓测量系统

 花岗石底座带T型槽和电动Y/R升降工作台

 恒定动态速度控制,无论倾角大小,都保持测量点距一致。

 模块化设计的扩展功能。可升级:双向轮廓模式,粗糙度测量。


TS-X:轮廓粗糙度测量系统

 采用空气轴承,X轴向静态接触和测量,全量程都可以测量轮廓和粗糙度

 

TS-XLTS-X的升级版,立柱高达550 mm,承重50kg

 

TS-X Move:大型和重型工件测量站,工件直径1200mm,承重150 Kg


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粗糙度选项:

评价表面粗糙度的软件选项,可评价粗糙度参数见下表

通过参考测量来测量表面粗糙度

轮廓和粗糙度测量可以结合在MultiContour"功能中,并与双向轮廓功能结合使用

此功能可集成到自动测量功能中


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